ЦКП «Прикладное материаловедение»

Центр коллективного пользования «Прикладное материаловедение»

Наименование организации, на базе которой создано (функционирует структурное подразделение): ФГБОУ ВО «Тихоокеанский государственный университет»

Адрес организации: 680035, Россия, г. Хабаровск, ул. Тихоокеанская, 136.

Фактический адрес размещения структурного подразделения: 680035, Россия, г. Хабаровск, ул. Тихоокеанская, 136, ауд. 130п.

Руководитель: Химухин Сергей Николаевич, д.т.н., профессор кафедры «Литейное производство и технологии металлов»

Телефон: +7-924-203-06-09

E-mail: unir@khstu.ru

Основные направления деятельности:

ЦКП «Прикладное материаловедение» предоставляет услуги пользования научно-исследовательским и производственным оборудованием для юридических, физических лиц и для подразделений ТОГУ, по направлениям: материаловедение; физика твердого тела, нанотехнологии; обработка материалов и многим другим.

Перечень оборудования:

1. Микроскоп «Planar Micro-200»

• Марка: Micro-200
• Фирма-изготовитель: Planar
• Год выпуска: 2004
• Количество единиц: 1

В основе работы микроскопа лежит метод проецирования изображения объекта с использованием оптической системы объектив-тубусная линза в предметной плоскости окуляра с различными увеличениями. Режимы наблюдения объекта в отраженном свете по методу «светлого» и темного» поля. Микроскоп «Planar Micro-200» идеально подходит для решения задач металлографического анализа и является незаменимым инструментом в материаловедении.

2. Многоцелевой измерительный прибор «Derivatograph Q-1000»

• Марка: Derivatograph Q-1000
• Фирма-изготовитель: MOM
• Год выпуска: 1981
• Количество единиц: 1

Термографией, или термическим анализом называют методы обнаружения и исследования фазовых и структурных превращений по их тепловым эффектам. Скорость нагрева или охлаждения вещества изменяется во время прохождения в нем того или иного превращения вследствие поглощения или выделения теплоты, что может быть зарегистрировано прибором. В приборе реализованы две методики измерений: термогравиметрия (ТГ) и дифференциальный термический анализ (ДТА).

3. Напольная универсальная испытательная машина «Shimadzu AG-X Plus»

• Марка: AG-X Plus
• Фирма-изготовитель: Shimadzu
• Год выпуска: 2012
• Количество единиц: 1

Технические характеристики:

• Возможность проведения испытаний на разрыв, сжатие, изгиб (по 3-ем или 4-ем точкам), отслаивание, сдвиг, испытание в режимах ползучесть и релаксация, циклических испытаний, измерений текстуры и т.д. при комплектации машины соответствующими зажимами и ПО;
• Нагрузка 250 кН;
• Диапазон измерения от 500 Н до 250 кН;
• Диапазон скорости траверсы: 0.0005500 мм/мин, произвольная неступенчатая установка, максимальная скорость возврата не менее 600 мм/мин;
• Эффективная ширина испытания не менее 600 мм;
• Жесткость рамы 400 кН/мм;
• Датчик нагрузки на 250 кН с точностью 1%,;
• Съемный пульт управления;
• Клиновидные захваты с макс. усилием 250 кН для работы в температурном диапазоне от 0 до 120ºC, в комплекте с губками для плоских образцов толщиной 0-8.5 мм;
• Набор губок для клиновидного захвата с максимальным усилием 250 кН для плоских образцов толщиной от 8.5 до 17 мм; для стержнеобразных образцов диаметром от 4 до 23 мм;
• Набор плит сферического типа для испытаний на сжатие, 100 мм (диам.). Макс. усилие 250 кН; Температурный диапазон использования 0 - +40ºC;
• Устройство для испытаний на 3-х точечный изгиб, Макс. усилие 100 кН, максимальное расстояние между опорами 500 мм, диаметр опор 15 мм, ширина опор 110 мм, диаметр пуансона 5 мм, ширина пуансона 72 мм, температурный диапазон использования 0 - +40ºC;
• Температурная камера для работы в диапазоне от -70 до +280°С, внутренние размеры камеры 300х300х600 мм, охлаждение жидким азотом, скорость нагрева прибл. 30 мин (до +250°С), скорость охлаждения прибл. 20 мин (до -70°С), температурный разброс ±1.5°С в центре камеры;

• Клиновидные захваты с макс. усилием 100 кН для работы в температурном диапазоне от -70 до +300ºC, в комплекте с губками для плоских образцов толщиной 0-7 мм;
• Набор губок для плоских образцов толщиной от 7 до 21 мм; для стержнеобразных образцов диаметром от 4 до 20 мм;
• Устройство для испытания на изгиб в трех точках в камере. с максимальным усилием 5 кН. Радиус пуансона 5 мм, , ширина пуансона 50 мм, радиус опор 2 мм, ширина опор 50 мм, расстояние между опорами от 20 до 100 мм, для работы в диапазоне от -70 до +250°С;
• Контейнер для жидкого азота объемом 100 л;
• Высокоточный контактный экстензометр для работы в термокамере с характеристиками:
• Измерительная база – 25 мм;
• Макс. удлинение образцов до 50%;
• Для образцов плоских толщиной до 10, и круглых диаметром до 14 мм;
• Температурный диапазон использования от -70 до 200ºС.

4. Рентгеновский дифрактометр общего назначения «ДРОН-7»

• Марка: ДРОН-7
• Фирма-изготовитель: Буревестник
• Год выпуска: 2006
• Количество единиц: 1

Рентгеновская дифракция - самый надежный неразрушающий метод идентификации кристаллического вещества. Рентгеновский дифрактометр общего назначения незаменим при решении различных аналитических, технологических и научно-исследовательских задач материаловедения:

• качественный и количественный анализ фазового состава сырья, продукции, металлов, сплавов, порошков и промышленных отходов;
• определение структурных характеристик и анализ степени чистоты кристаллических материалов;
• анализ напряженного и текстурированного состояния материалов и покрытий; определение атомной структуры веществ, параметров решетки.

5. Модульный атомно-силовой микроскоп «Ntegra Prima»

• Марка: Ntegra Prima
• Фирма-изготовитель: NT-MDT
• Год выпуска: 2012
• Количество единиц: 1

ИНТЕГРА Прима — НаноЛаборатория, созданная для решения широкого спектра задач в области атомно-силовой микроскопии (АСМ), предусматривает возможность изучения физических свойства поверхности образца с большой точностью и высоким разрешением. Специальный наносклерометрический модуль позволяет проводить микро-, наноиндентирование и склерометрию с последующим сканированием области индентирования. Управляющая электроника нового поколения позволяет работать с высокой скоростью сканирования. Области применения ИНТЕГРА Прима охватывают практически все направления современной науки и техники: биология, нанобиотехнология, материаловедение, магнитные материалы, наноматериалы и наноструктуры, полупроводники, полимеры, органические пленки, запоминающие среды, нанообработка.

6. Спектрометр рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный «СПЕКТРОСКАН МАКС-GV»

• Марка: МАКС-GV
• Фирма-изготовитель: Спектрон
• Год выпуска: 2008
• Количество единиц: 1

Рентгеновский спектрометр «СПЕКТРОСКАН МАКС-GV» предназначен для определения содержания любых химических элементов в диапазоне от натрия 11-Na до урана 92-U в различных веществах, находящихся в твердом, жидком или порошкообразном состоянии, а также нанесенных на поверхность, либо осажденных на фильтр. Спектрометр реализует рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный (WDX) метод анализа, относящийся к неразрушающим методам. Диапазон определяемых концентраций от 0,0001 % до 100 % без концентрирования и от 10-6 - 10-7 % до долей процента - с концентрированием.

Основные особенности спектрометра «СПЕКТРОСКАН МАКС-GV»:

• Вакуумирование оптического пути позволяет проводить качественное и количественное определение «легких» элементов (от 11-Na).
• Анализируемые образцы расположены вне вакуума, что позволяет без специальной подготовки анализировать вещества, находящиеся в жидком и порошкообразном состоянии.
• Четыре, автоматически сменяемые, кристалла-анализатора позволяют регистрировать излучение на различных энергетических участках с оптимальным соотношением сигнал-фон.
• Высокая разрешающая способность кристаллов-анализаторов исключает наложение близких спектральных линий разных элементов и необходимость их математического разделения, позволяя правильно учитывать фон.

7. Аналитический исследовательский комплекс на базе сканирующего автоэмиссионного электронного микроскопа с катодом Шоттки «Hitachi SU-70» с приставками ЭДС анализа (модель Ultradry) и ВДС анализа (модель Magnaray) фирмы ThermoFisher Sientific.

• Марка: SU-70
• Фирма-изготовитель: Hitachi
• Год выпуска: 2012
• Количество единиц: 1

Растровый электронный микроскоп. Модель SU-70 – это новая концепция сканирующих электронных микроскопов, в которой для достижения ультра высокого разрешения используется электронная пушка с катодом Шоттки и проверенная временем технология semi-in-lens. Данный микроскоп характеризуется не только ультравысоким разрешением (1 нм при ускоряющем напряжении 15 кВ, 1,6 нм при ускоряющем напряжении 1 кВ), но и возможностью исследования изображений со сниженным зарядом, изображений с контрастной структурой, изображений при ультранизком ускоряющем напряжении, используя достоинства Super ExB фильтра.

8. Прибор лазерной вспышки «Netzsch LFA 457 MicroFlash»

• Марка: LFA 457 MicroFlash
• Фирма-изготовитель: Netzsch
• Год выпуска: 2012
• Количество единиц: 1

Перечень методик измерений

Измерения производятся согласно методикам, изложенным в паспортах и руководствах по эксплуатации к научному оборудованию.

Перечень оказываемых услуг:

Перечень исследований проводимых на растровом электронном микроскопе HITACHI SU-70 с приставками ЭДС АНАЛИЗА (МОДЕЛЬ ULTRADRY) И ВДС АНАЛИЗА (МОДЕЛЬ MAGNARAY) фирмы THERMOFISHER SIENTIFIC.

1. Получение электронных изображений поверхности
   1. Получение изображений во вторичных электронах на увеличениях от 30 до 800 000 крат;
   2. Получение изображений в отраженных электронах на увеличениях от 30 до 800 000 крат;
2. Элементный микрорентгеноспектральный анализ
   1. Анализ общий по поверхности образца ЭДС* приставкой;
   2. Анализ общий по поверхности образца ВДС** приставкой;
   3. Анализ в точках на поверхности образца ЭДС приставкой;
   4. Анализ в точках на поверхности образца ВДС приставкой;
   5. Построение профиля распределения элементов ЭДС приставкой
   6. Построение профиля распределения элементов ВДС приставкой
   7. Построение карт распределения элементов ЭДС
   8. Построение карт распределения элементов ВДС приставкой;
   9. Эмпирический расчет распределения элементов по фазам на основании данных построенных карт распределения элементов ЭДС приставкой с помощью встроенного модуля Kompas программы обработки данных NSS Spectral Imaging.
   10. Экспорт данных в виде документов Microsoft Word, таблиц в виде Microsoft Excel и универсального формата .CSV

*Энергодисперсионная
**Волнодисперсионная

Перечень исследований, проводимых на модульном атомно-силовом микроскопе «ИНТЕГРА ПРИМА»

1. Услуги по измерениям
   1. Количественный и морфологический анализ линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур (Полуконтактный метод АСМ);
   2. Получение карты распределения характеристик материала образца, отображая неочевидные контрасты свойств материалов (Методика отображения фазы);
   3. Более точное воспроизведение топографии (рельефа) поверхности, с отысканием мелких неоднородностей на фоне крупных и относительно гладких особенностей рельефа (Полуконтактный метод рассогласования);
   4. Изучение распределения поверхностного потенциала по образцу (контактной разности потенциалов между зондом и образцом, многопроходные методики-метод Зонда Кельвина) ;
   5. Определение модуля упругости и нанотвердости поверхности образца (индентирование при помощи наносклерометрического модуля);
   6. Определение нанотвердости и изучение прочностных и адгезионных свойств тонких пленок (склерометрия при помощи наносклерометрического модуля);
2. Аналитические услуги
   1. Построение трехмерных изображений рельефа поверхности;
   2. Первичная обработка изображений (в Nova подбор цветовой гаммы для более контрастного отображения микрорельефа поверхности, представление сканированного изображения в виде поверхности с заполнением объема до уровня нуля, подбор способа выравнивания изображения вычитанием поверхности, применение фильтров);
   3. Обработка полученных изображений в программе Image Analysis (применение фильтров, повышающих четкость изображений, методы Data transformation);
   4. Редактирование полученных изображений в программе Image Analysis (методы Editing: удаление затяжек, помех;
   5. Оформление полученных результатов для использования в печати методами экспорта в графический файл;
   6. Анализ двухмерной структуры поверхности (Section Analysis: получение сечений по разным участкам и плоскостям; Average profile: получение усредненных профилей по различным плоскостям по всему изображению);
   7. Анализ двухмерной структуры поверхности в том случае, когда именно двумерная структура и представляет основной интерес (инструмент Local Equilization*);
   8. Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур;
   9. Анализ образцов типа «плоская горизонтальная поверхность с локально расположенными частицами или порами» (инструмент Grain Analysis: подсчет количества зерен, их геометрических параметров, построение гистограммы плотности распределения одного из геометрических параметров, экспорт полученных результатов в Word, Excel);
   10. Построение гистограммы плотности распределения значений 2D-функции (инструменты Histogram и Bearing Ratio);
   11. Измерение величины шероховатости поверхности по всему изображению или на выбранном участке (метод Roughness Analysis: подсчет некоторых параметров шероховатости по ISO 4287/1 и построение графика распределения значений 2D-функции).

*Local Equilization позволяет контрастировать тонкую структуру поверхностных объектов, в случае, когда рельеф имеет несколько характерных масштабов, например тонкую структуру на фоне больших изменений высоты рельефа с большой характерной длиной.

Информация о локальных нормативных актах, регулирующих деятельность структурного подразделения:

Содержание страницы составлено в соответствии с требованиями:

1. Письма Департамента науки и технологий Минобрнауки России №14-1396 от 19.08.2016 «Об утверждении требований к сайтам ЦКП и УНУ»
2. Приказа Минобрнауки России № 871 от 18.07.2016 г. «Об утверждении Типовых требований к содержанию и функционированию официальных сайтов центров коллективного пользования научным оборудованием и (или) уникальных научных установок, которые созданы и (или) функционирование которых обеспечивается с привлечением бюджетных средств, в информационно-телекоммуникационной сети «Интернет» и (или) их страниц на официальных сайтах научных организаций и (или) образовательных организаций, которыми созданы и (или) в которых функционируют такие центры и уникальные установки».
3. Постановления Правительства РФ №429 от 17.05.2016 г. «О требованиях к центрам коллективного пользования научным оборудованием и уникальным научным установкам, которые созданы и (или) функционирование которых обеспечивается с привлечением бюджетных средств, и правилах их функционирования».
4. Постановления Правительства РФ от 10 июля 2013 г. N 582 "Об утверждении Правил размещения на официальном сайте образовательной организации в информационно-телекоммуникационной сети "Интернет" и обновления информации об образовательной организации" (с изменениями и дополнениями)
5. Приказа Федеральной службы по надзору в сфере образования и науки от 29 мая 2014 г. N 785 «Об утверждении требований к структуре официального сайта образовательной организации в информационно-телекоммуникационной сети "Интернет" и формату представления на нем информации» (с изменениями и дополнениями).
6. Методических рекомендаций Рособрнадзора N 07-675 от 25 марта 2015 г. представления информации об образовательной организации в открытых источниках с учетом соблюдения требований законодательства в сфере образования (для образовательных организаций высшего образования).